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每一所述第二子管道502与所述公共子管道501连通，所述公共子管道501与所述下一级腔室102连通。其中，阀门开关60设置在每一子管道301上。在一些实施例中，阀门开关60设置在每一***子管道401及每一所述第二子管道502上。在一些实施例中，阀门开关60设置在每一第二子管道502上。具体的，阀门开关60的设置位置可以设置在连接过滤器30的任意管道上，在此不做赘述。在一些实施例中，请参阅图4，图4为本申请实施例提供的剥离液机台100的第四种结构示意图。第二管道50包括多个第三子管道503，每一所述第三子管道503与一子过滤器连通301，且每一所述第三子管道503与所述下一级腔室连通102。其中，阀门开关60设置在每一第三子管道503上。本申请实施例提供的剥离液机台，包括：依次顺序排列的多级腔室、每一级所述腔室对应连接一存储箱；过滤器，所述过滤器的一端设置通过管道与当前级腔室对应的存储箱连接，所述过滤器的另一端通过第二管道与下一级腔室连接；其中，至少在管道或所述第二管道上设置有阀门开关。通过阀门开关控制连接每一级腔室的过滤器相互独立，从而在过滤器被阻塞时通过阀门开关将被堵塞的过滤器取下并不影响整体的剥离进程，提高生产效率。铝剥离液的配方是什么？嘉兴格林达剥离液推荐货源

采用此方法可以制备出负性光刻胶所能制备的任意结构，同时相比于传统的加工，本方案加工效率可以提高上千倍，且图形的结构越大相对的加工效率越高。本发明为微纳制造领域，光学领域，电学领域，声学领域，生物领域，mems制造，nems制造，集成电路等领域提供了一种新的有效的解决方案。附图说明图1为本发明制备用电子束在pmma上曝光出圆形阵列的轮廓；图2为本发明用黏贴层撕走pmma轮廓以外的结构后得到的圆形柱状阵列；图3为实施例1步骤三的结构图；图4为实施例1步骤四的结构图；图5为实施例1步骤五的结构图；图6为实施例1步骤六的结构图。具体实施方式为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步详细的描述。实施例1一种选择性剥离光刻胶制备微纳结构的方法，包括以下步骤：步骤一、提供衬底，并清洗；步骤二、使用十三氟正辛基硅烷利用高温气体修饰法对衬底进行修饰；步骤三、利用旋涂的方法在衬底上旋涂光刻胶pmma得到薄膜，如图3。步骤四、在光刻胶上加工出所需结构的轮廓如圆形，如图4所示。步骤五、在加工出结构轮廓的薄膜上面覆盖一层黏贴层，如图5。步骤六、揭开黏贴层及结构轮廓以外的薄膜，在衬底上留下轮廓内的微纳尺度结构。嘉兴格林达剥离液推荐货源专业配方，博洋剥离液是您的明智之选。

本发明下述示例性实施例可以多种不同的形式来实施，并且不应当被解释为只限于这里所阐述的具体实施例。应当理解的是，提供这些实施例是为了使得本发明的公开彻底且完整，并且将这些示例性具体实施例的技术方案充分传达给本领域技术人员。如图1所示，本发明提供的光刻胶剥离去除方法主要实施例，用于半导体制造工艺中，可应用于包括但不限于mos、finfet等所有现有技术中涉及光刻胶剥离去除的生产步骤，主要包括以下步骤:s1，在半导体衬底上淀积介质层；s2，旋涂光刻胶并曝光显影，形成光刻图形阻挡层；s3，执行离子注入：s4，采用氮氢混合气体执行等离子刻蚀，对光刻胶进行干法剥离；s5，对衬底表面进行清洗。本发明刻胶剥离去除方法主要实施例采用能与主要光刻胶层和第二光刻胶层反应生成含氨挥发性化合物气体，与主要光刻胶层和第二光刻胶层反应速率相等的等离子体氮氢混合气体能更高效的剥离去除光刻胶，有效降低光刻胶残留。进而避免由于光刻胶残留造成对后续工艺的影响，提高产品良率。参考图11和图12所示，在生产线上采用本发明的光刻胶剥离去除方法后，监控晶圆产品缺陷由585颗降低到32颗，证明本发明光刻胶剥离去除方法的的改善的产品缺陷，促进了产品良率的提升。

阀门开关60设置在每一子管道301上。在一些实施例中，阀门开关60设置在每一子管道401及每一所述第二子管道502上。在一些实施例中，阀门开关60设置在每一第二子管道502上。具体的，阀门开关60的设置位置可以设置在连接过滤器30的任意管道上，在此不做赘述。在一些实施例中，请参阅图4，图4为本申请实施例提供的剥离液机台100的第四种结构示意图。第二管道50包括多个第三子管道503，每一所述第三子管道503与一子过滤器连通301，且每一所述第三子管道503与所述下一级腔室连通102。其中，阀门开关60设置在每一第三子管道503上。本申请实施例提供的剥离液机台，包括：依次顺序排列的多级腔室、每一级所述腔室对应连接一存储箱；过滤器，所述过滤器的一端设置通过管道与当前级腔室对应的存储箱连接，所述过滤器的另一端通过第二管道与下一级腔室连接；其中，至少在管道或所述第二管道上设置有阀门开关。通过阀门开关控制连接每一级腔室的过滤器相互独立，从而在过滤器被阻塞时通过阀门开关将被堵塞的过滤器取下并不影响整体的剥离进程，提高生产效率。本申请实施例还提供一种剥离液机台的工作方法，请参阅图5，图5为本申请实施例提供的剥离液机台的工作方法的流程示意图。剥离液可以用在什么地方；

本实用新型涉及光刻胶生产设备，具体是一种光刻胶废剥离液回收装置。背景技术：光刻胶是微电子技术中微细图形加工的关键材料之一，其是由溶剂、感光树脂、光引发剂和添加剂四种成分组成的对光敏感的混合液体。在紫外光、深紫外光、电子束、离子束等光照或辐射下，进行光化学反应，经曝光、显影等过程，将所需要的微细图形从掩模版转移至待加工的衬底上，然后进行蚀刻等工艺加工，终得到所需图像。其中，溶剂使光刻胶具有流动性，易挥发，对于光刻胶的化学性质几乎没有影响。感光树脂是惰性的聚合物，用于把光刻胶中的不同材料聚在一起的粘合剂，给予光刻胶其机械和化学性质。光引发剂是光刻胶中的光敏成分，对光能发生光化学反应。添加剂是控制光刻胶材料特殊方面的化学物质，用来控制和改变光刻胶材料的特定化学性质或响应特性。在光刻工艺中，一般步骤为匀胶—干燥—前烘--曝光—显影—后烘—蚀刻—剥离。在光刻胶剥离工序中会产生剥离废液，光刻胶价格昂贵，如不对废液中的光刻胶成分回收利用，会造成较大的资源浪费，因此企业通常将剥离废液中的光刻胶树脂进行有效回收并应用于再生产中。剥离液的组成成分是什么；深圳哪家剥离液商家

剥离液可以有正胶和负胶以及正负胶不同的分类。嘉兴格林达剥离液推荐货源

本发明提供的光刻胶剥离去除方法第二实施例，用于半导体制造工艺中，可应用于包括但不限于mos、finfet等所有现有技术中涉及光刻胶剥离去除的生产步骤，主要包括以下步骤:s1，在半导体衬底上淀积一层二氧化硅薄膜作为介质层；s2，旋涂光刻胶并曝光显影，形成光刻图形阻挡层；s3，执行离子注入，离子注入剂量范围为1×1013cm-2～1×1016cm-2。s4，采用氮氢混合气体执行等离子刻蚀，对光刻胶进行干法剥离，氢氮混合比例范围为4:96～30:70。s5，对衬底表面进行清洗，清洗液采用氧化硫磺混合物溶液和过氧化氨混合物溶液。本发明提供的光刻胶剥离去除方法第三实施例，用于半导体制造工艺中，可应用于包括但不限于mos、finfet等所有现有技术中涉及光刻胶剥离去除的生产步骤，主要包括以下步骤:s1，在半导体衬底上淀积一层二氧化硅薄膜作为介质层；s2，旋涂光刻胶并曝光显影，形成光刻图形阻挡层；s3，执行离子注入，离子注入剂量范围为1×1013cm-2～1×1016cm-2。s4，采用氮氢混合气体执行等离子刻蚀，对光刻胶进行干法剥离，氢氮混合比例范围为4:96～30:70。s5，对硅片执行单片排序清洗，清洗液采用h2so4:h2o2配比范围为6:1～4:1且温度范围为110℃～140℃的过氧化硫磺混合物溶液。嘉兴格林达剥离液推荐货源