618光电行业ITO**蚀刻液,专门针对氧化铟锡(ITO)玻璃导电薄膜镀层图线的脱膜蚀刻,它对于高阻抗ITO玻璃导电膜(PET-ITO)以及低阻抗ITO玻璃导电膜(PET-ITO)都且有优良的蚀刻速度与效果。具有速度快、侧蚀小、无沉淀、气味小、不攻击抗蚀层,不攻击基材,操作控制简便灵活等非常***的优点,可采取自动控制系统补加,也可人工补...

本发明涉及一种用来在铜的存在下选择性地蚀刻钛的蚀刻液及使用该蚀刻液的蚀刻方法。背景技术：以往，在蚀刻钛时一直使用含有氢氟酸或过氧化氢的蚀刻液。例如专利文献1中提出了一种钛的蚀刻液，该钛的蚀刻液是用来在铜或铝的存在下蚀刻钛，并且该蚀刻液的特征在于：利用由10重量％至40重量％的过氧化氢、％至5重量％的磷酸、％至％的膦酸系化合物及氨所构成的水...

负的值表示厚度减小。上述蚀刻液组合物以在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*选择性蚀刻上述氮化物膜为特征，上述氧化物膜推荐包含sio2，上述氮化物膜推荐包含sin。上述蚀刻液组合物用于3dnand闪存制造工序，能够使上述氮化物膜去除工序中发生的副反应氧化物的残留和氧化物膜损伤不良问题**少化。本发明的蚀刻液组合物包含如上选择的添加剂，在包含氧化...

并利用水滴的表面张力现象防止水滴由该复数个宣泄孔121落下造成该基板20的蚀刻不均等异常现象，确实达到保有原始挡液板的挡液效果，以及增加透气性以破除真空以减少因真空吸板而导致该基板20刮伤或破片风险等主要优势。该蚀刻设备1可进一步设置有一喷洒装置50，该喷洒装置50设置于该挡液板结构10的一端部，且该基板20设置于该挡液板结构10的下方约...

本实用涉及电子化学品生产设备技术领域，具体为高蚀刻速率无残留酸性铝蚀刻液生产装置。背景技术：近年来，人们对半导体装置、液晶显示器的需求量不断增加的同时，对于这些装置所具有的配线、电极等的微小化、高性能化的要求也越来越严格，而蚀刻的效果能直接导致电路板制造工艺的好坏，影响高密度细导线图像的精度和质量，为了解决蚀刻液组合物蚀刻铝材料过程中，对...

使硝酸钾储罐21和其它储罐的内部形成一个密闭的空间，避免环境外部的杂质进入储罐内，有效的提高了装置使用的密封性；紧接着，将磷酸与醋酸在个搅拌仓23中充分搅拌混合均匀，然后在第二个搅拌仓23中与硝酸充分搅拌混合均匀后，再进入配料罐中混合，将阴离子表面活性剂和聚氧乙烯型非离子表面活性剂在第三个搅拌仓23混合后再进入第四个搅拌仓23中，与氯化钾...

可以充分的将蚀刻液中的亚铜离子电解转化为金属铜，起到循环电解蚀刻液的作用；装置主体1左端表面靠近上端固定安装有抽气泵19，抽气泵19下方设置有集气箱21，集气箱21与抽气泵19之间连接有排气管20，电解池4下端连接有二号排液管22，二号排液管22内部上端设置有二号电磁阀23，装置主体1内部底端靠近左侧设置有倾斜板24，装置主体1前端表面靠...

更推荐满足。参照图4，在添加剂(硅烷系偶联剂)的aeff处于，能够使因副反应氧化物的残留时间变长而氮化物膜未被完全去除的不良**少化，在硅烷系偶联剂的aeff处于，能够使氧化物膜损伤不良**少。因此，在利用上述范围所重叠范围(规格(spec)满足区间)即aeff为2以上，能够使因副反应氧化物的残留时间变长而氮化物膜未被完全去除的不良以及氧...

本实用新型有关于一种挡液板结构与以之制备的蚀刻设备，尤其是指一种适用于湿式蚀刻机的挡液排液功能且增加其透气性以降低产品损耗的挡液板结构与以之制备的蚀刻设备。背景技术：请参阅图1所示，为传统挡液板结构的整体设置示意图，其中一实心pvc板态样的挡液板结构a设置于一湿式蚀刻机(图式未标示)内，主要用以阻挡一蚀刻药液(图式未标示)对设置于该挡液板...

注入量精确调配装置通过嵌入引流口2接入盐酸装罐7进行原料注入，工作人员通过负压引流器21将盐酸硝酸引向注入量控制容器18内，通过观察注入量控制容器18内的注入量观察刻度线19对注入量进行精确控制，当到达设定的注入量时将限流销20插入进行限流即可，很好的对注入量进行精确控制，提高了该装置的制备纯度。工作原理：首先，通过设置热水流入漏斗9，工...

本实用新型涉及一种铝蚀刻液生产设备。背景技术：铝蚀刻液生产设备主要包括混合罐、过滤器和储存罐，将蚀刻液中的各组份在混合罐混合均匀，由过滤器滤去杂质后投入储存罐中暂存，然后分装销售。以往，铝蚀刻液的分装由人工操作，随着自动化技术的兴起，全自动灌装线在铝蚀刻液生产企业得到广泛应用，但是，我司的铝蚀刻液生产车间面积较小，无法放置自动灌装线，所以...

更推荐满足。参照图4，在添加剂(硅烷系偶联剂)的aeff处于，能够使因副反应氧化物的残留时间变长而氮化物膜未被完全去除的不良**少化，在硅烷系偶联剂的aeff处于，能够使氧化物膜损伤不良**少。因此，在利用上述范围所重叠范围(规格(spec)满足区间)即aeff为2以上，能够使因副反应氧化物的残留时间变长而氮化物膜未被完全去除的不良以及氧...