LED光源：主流之选及其技术优势发光二极管（LED）凭借其综合性能优势，已成为机器视觉光源领域无可争议的主流技术。其重要优势体现在多个层面：光谱纯净，可提供从紫外（UV）、可见光到红外（IR）的多种单色或组合波长，精细匹配被测物特性或滤镜需求；寿命极长（通常数万小时），突出降低维护成本和停机风险；响应速度快（微秒级），完美适应高速生产线，可实现频闪照明冻结运动物体；低功耗与低发热，减少散热负担，简化系统设计并提升能效；亮度高度可控且稳定，通过电流调节实现精确调光，避免光强波动引入噪声。现代LED视觉光源常集成精密光学元件（透镜、漫射板、偏振片）和结构设计（如环形、条形、同轴、穹顶），形成多样化的照明模式。其模块化设计支持灵活组合与扩展，并能通过智能控制器实现多通道单独编程控制，包括亮度、频闪时序等，为复杂检测需求提供强大支持。LED技术的持续进步（更高亮度、更小尺寸、更多波长选择）进一步巩固了其在机器视觉照明中的主导地位。荧光灯成本低但亮度较低。呼和浩特环形低角度光源双向无影高角度环形
汽车制造涉及海量零部件和复杂装配，机器视觉光源支撑着众多关键检测环节：零部件尺寸与几何量测量：高精度背光（结合远心光路）用于测量垫片、活塞环、精密齿轮等轮廓尺寸；结构光用于车身面板间隙面差测量。表面缺陷检测：金属件（缸体、曲轴、齿轮）：低角度条形光或环形光突显机加工纹路、划痕、毛刺、凹坑；漆面/外饰件（车门、保险杠）：穹顶光（抑制眩光）检查橘皮、颗粒、流挂、污染、光泽不均；塑料内饰件：环形光或同轴光检查注塑缺陷、缩痕、熔接线、皮革纹理。装配验证：螺钉拧紧：检查螺钉头类型、有无、是否浮起（常用环形光）；线束插接：检查插头是否到位、锁扣是否扣紧（环形光或局部照明）；密封胶涂敷：检查胶条连续性、位置、宽度（常需特定波长或背光）。字符与条码识别：零件上的DPM码（直接部件标记，如激光雕刻、点刻）常用低角度照明（产生阴影）或同轴光读取。轮胎检测：检查胎纹、侧壁文字、缺陷（结构光、多角度照明）。玻璃检测：检查车窗、挡风玻璃的划痕、结石、气泡（透射光、暗场照明）。光源需适应汽车厂严苛环境（油污、震动、温度变化）并满足高节拍生产要求（频闪照明）。可靠的光源是保障汽车质量和自动化生产的关键要素。丽水高亮条形光源红外外环光源与镜头同轴安装。
光源在半导体与电子制造业的关键应用半导体和电子制造业（SMT,PCB组装，芯片封装）是机器视觉应用只密集、要求只严苛的领域之一，光源在其中解决诸多关键检测难题：焊点检测（AOI-AutomatedOpticalInspection）：需要多角度照明（如环形光不同角度、穹顶光）揭示焊锡的光泽、形状、润湿角、桥接、虚焊等特征。特定波长（如蓝光）对微小缺陷敏感。元件存在/缺失、极性、错件：通用环形光、同轴光提供清晰整体图像。引线键合（WireBonding）：高倍显微下，点光源/光纤照明精细照亮微小焊点与金线，查断线、弧度、位置偏移。晶圆（Wafer）检测：表面缺陷（划痕、颗粒、沾污）：高均匀性明场（同轴光、穹顶光）或暗场照明（低角度光突显微小凸起）；图案（Pattern）对准/缺陷：高分辨率同轴光或特定波长照明；薄膜厚度测量：利用干涉或光谱反射，需要特定波长光源。PCB缺陷（断路、短路、蚀刻不良）：高分辨率背光查线路通断、线宽；表面照明查阻焊、字符、污染。BGA/CSP球栅阵列：X光更常用，但光学上可用特殊角度照明观察边缘球。小型化趋势：推动微型、高亮度、高均匀性光源（如微型环形光、同轴光）发展。光源的稳定性、均匀性、波长精确性和可控性对微电子检测至关重要。
传统的彩色（RGB）机器视觉基于人眼三色原理，而多光谱（Multispectral）和高光谱（Hyperspectral）成像则通过获取物体在数十至数百个连续窄波段下的图像，揭示更丰富的光谱指纹信息。这对光源提出了特殊要求：宽光谱覆盖：光源需要提供足够强度且均匀的照明，覆盖从紫外、可见光到近红外（UV-VIS-NIR，如350-1000nm或更宽）的宽范围。常用高亮度卤钨灯（稳定连续光谱）或特定组合的LED阵列（覆盖关键波段）。光谱稳定性：光源的光谱输出必须高度稳定，避免漂移影响分析结果。卤钨灯需恒流供电，LED需精确控温控流。均匀性要求极高：不仅是空间均匀性，光谱均匀性（不同位置光谱成分一致）同样关键，否则会导致光谱数据失真。可能需要积分球匀光或精密光学设计。照明方式适配：根据应用（反射、透射、荧光）选择前向照明（如环形光、穹顶光）、背光或特定角度照明。高光谱光源常用于：材料分类与鉴别（塑料分选、矿物分析）；化学成分检测（农产品糖度、水分、成熟度；药品有效成分）；生物医学应用（组织病理、细胞分析）；精细农业（作物健康监测）；环境监测；防伪等。光源的性能（亮度、稳定性、均匀性、光谱范围）是获得高质量光谱数据立方体并进行有效分析的前提。高亮度光源应对高速拍摄。
偏振光在机器视觉中的应用：消除反光与增强对比度偏振光技术是解决物体表面镜面反射（眩光）和增强特定特征对比度的有效光学手段。其基本原理是利用偏振片控制光波的振动方向。典型应用模式有两种：第一种是“光源+偏振片，相机镜头前加偏振片”：光源发出的非偏振光经起偏器变为线偏振光照射物体。物体表面反射光包含镜面反射（通常保持原偏振方向）和漫反射（偏振方向随机）。相机镜头前的检偏器若旋转至与起偏器方向垂直，则可有效阻挡镜面反射光，同时允许部分漫反射光通过，从而突出抑制眩光，使被眩光覆盖的表面纹理、划痕、印刷图案等得以显现。第二种是只相机镜头前加偏振片，用于过滤环境光中的偏振干扰。偏振照明特别适用于检测光滑表面（金属、玻璃、塑料、漆面）的划痕、凹陷、异物、油污等。配置时需仔细调整光源与相机偏振片的相对角度（通常正交效果比较好），并考虑光线入射角的影响。虽然会增加成本并损失部分光强，但在解决棘手反光问题时效果突出。分光镜实现同轴光路设计。阳泉光源平行同轴
红外光源可穿透某些材料检测。呼和浩特环形低角度光源双向无影高角度环形
光源均匀性：概念、重要性及评估方法光源均匀性是衡量照明场光强分布一致性（均匀程度）的关键指标，对机器视觉检测精度至关重要，尤其在进行定量测量（如尺寸、色度）或大面积检测时。不均匀照明会导致图像不同区域亮度差异：过亮区域可能饱和丢失细节，过暗区域信噪比差难以分析，这种亮度梯度会被误判为物体本身的特征变化（如厚度不均、颜色渐变），严重影响检测结果的一致性和可靠性。均匀性通常定义为：Uniformity=[1-(Max-Min)/(Max+Min)]*100%，其中Max和Min是测量区域内多个采样点的亮度值。理想值为100%，工业应用中通常要求>80%甚至>90%。评估均匀性需要使用光强计或经校准的参考相机，在设定的工作距离下，在有效照明区域内按网格（如5x5或9x9）测量多个点的亮度值，然后计算。影响均匀性的因素众多：LED个体的亮度/色温差异、排列密度、光学设计（透镜、漫射板）的质量与老化、供电稳定性、结构遮挡、距离变化等。改善均匀性的方法包括：选用高质均光板（如乳白亚克力、匀光膜）、优化LED排布（增加密度、交错排列）、采用积分球原理（穹顶光）、精确控制光源距离、定期校准维护。在系统设计阶段就必须将均匀性作为重要参数进行验证和优化。
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