环形光源：通用性设计及其应用要点环形光源（RingLight）是机器视觉中应用更大量的基础照明形式之一，其LED阵列呈环形排布，围绕镜头同轴或成一定角度安装。这种设计提供了均匀、对称的照明场，特别适用于检测具有平面或规则曲面的物体，如PCB板、精密零件、瓶盖、标签等。其重要优势在于能有效减少阴影，提供良好的整体均匀性。根据光线照射角度，环形光可分为：直射环形光（光线直射物体，对比度高，但可能产生镜面反光）；漫射环形光（光线经漫射板柔和化，减少眩光，表面适应性更好）；低角度环形光（光线近乎平行于被测面，突出微小高度差、划痕、凹陷或雕刻字符）。选择环形光的关键参数包括环的直径（需匹配镜头工作距离和视场大小）、照明角度、漫射程度以及LED颜色。它尤其擅长解决物体定位、表面缺陷初检、字符识别等通用性问题。然而，对于深凹槽内部、具有复杂三维结构或极度反光的物体，可能需要结合其他照明方式（如条形光、同轴光或穹顶光）才能获得理想效果。同轴光用于检测光滑表面的划痕。台州条形光源面阵同轴
创新光源技术拓展能力边界：结构光投影： 高速投射的精密编码图案（如条纹或点阵），为3D视觉系统提供深度计算基准，广泛应用于机器人引导、曲面检测。多光谱/高光谱成像： 集成特定窄波段光源阵列，可识别材料化学成分差异（如水果糖度、药品成分分布），超越人眼感知极限。频闪同步技术： 光源与相机快门在微秒级精细联动，“冻结”高速运动物体（如瓶盖旋拧、传送带零件），消除运动模糊。智能自适应光源： 结合实时反馈算法，动态调整亮度与角度，应对复杂多变的生产环境（如反光材质混线生产）。南通环形低角度光源多光谱光源角度决定缺陷显现程度。
点光源与光纤导光：精细聚焦与微距应用在机器视觉中，当需要极高亮度、极小光斑或深入狭窄空间进行照明时，点光源结合光纤导光技术成为关键解决方案。点光源指能产生高度汇聚光束的单元，而光纤则负责将光线从发生器高效、灵活地传导至远端微小区域。其重点优势在于：极高的光强密度，可将强大光能汇聚于微小目标点；出色的灵活性与可达性，光纤细小柔韧，可轻易伸入设备内部、深孔、缝隙或复杂结构周围进行照明，不受空间限制；有效的热隔离，光源发生器可远离检测点，避免热量影响敏感被测物或光学元件；光斑形状可控，通过在光纤输出端加装微型透镜或光阑，可精确控制光斑的大小、形状和照射角度。点光源光纤照明在微电子（芯片、引线键合、焊点检测）、精密机械（微型齿轮、钟表零件）、生物医学以及需要局部高亮照明的场景（如微小划痕、特定标记点检查）中不可或缺。选择时需平衡光强需求、光斑尺寸、光纤长度和光源的稳定性。
发光二极管（LED）技术已经彻底革新并主导了现代机器视觉照明领域，这归功于其一系列无可比拟的综合性能优势。首先，LED拥有极长的使用寿命，通常可达30,000至100,000小时，这突出降低了系统的维护频率和长期运营成本，保证了生产线的连续稳定运行。其次，LED的响应速度极快，达到微秒级别，这使得它们能够完美地通过频闪（Strobing）工作方式来“冻结”高速运动中的物体，彻底消除运动模糊，从而满足高速在线检测的苛刻要求。第三，LED的光输出稳定性极高，在有效的散热设计保障下，其光强和光谱特性随时间的变化极小，确保了图像数据的一致性。第四，LED是冷光源，运行时发热量极低，这对于热敏感的被测物体至关重要，避免了热损伤或热膨胀带来的测量误差。第五，LED的光谱范围极其**，从紫外（UV）、可见光（各种单色光及白光）到红外（IR）都能覆盖，允许工程师根据被测物的特性选择更合适的波长以比较大化对比度。结尾，LED体积小巧，易于集成到各种复杂的光学结构和机械装置中，形成环形、条形、背光、同轴、穹顶等多种照明形态。其亮度可以通过电流进行精确的脉宽调制（PWM）控制，实现智能化和动态照明。这些优势共同奠定了LED在机器视觉照明中不可动摇的主导地位。 点光源聚焦于局部精细检测。
LED光源：主流之选及其技术优势发光二极管（LED）凭借其综合性能优势，已成为机器视觉光源领域无可争议的主流技术。其重要优势体现在多个层面：光谱纯净，可提供从紫外（UV）、可见光到红外（IR）的多种单色或组合波长，精细匹配被测物特性或滤镜需求；寿命极长（通常数万小时），突出降低维护成本和停机风险；响应速度快（微秒级），完美适应高速生产线，可实现频闪照明冻结运动物体；低功耗与低发热，减少散热负担，简化系统设计并提升能效；亮度高度可控且稳定，通过电流调节实现精确调光，避免光强波动引入噪声。现代LED视觉光源常集成精密光学元件（透镜、漫射板、偏振片）和结构设计（如环形、条形、同轴、穹顶），形成多样化的照明模式。其模块化设计支持灵活组合与扩展，并能通过智能控制器实现多通道单独编程控制，包括亮度、频闪时序等，为复杂检测需求提供强大支持。LED技术的持续进步（更高亮度、更小尺寸、更多波长选择）进一步巩固了其在机器视觉照明中的主导地位。绿光光源适合检测透明材料。无锡环形低角度光源面阵同轴
激光光源用于精密定位测量。台州条形光源面阵同轴
光源在半导体与电子制造业的关键应用半导体和电子制造业（SMT,PCB组装，芯片封装）是机器视觉应用只密集、要求只严苛的领域之一，光源在其中解决诸多关键检测难题：焊点检测（AOI-AutomatedOpticalInspection）：需要多角度照明（如环形光不同角度、穹顶光）揭示焊锡的光泽、形状、润湿角、桥接、虚焊等特征。特定波长（如蓝光）对微小缺陷敏感。元件存在/缺失、极性、错件：通用环形光、同轴光提供清晰整体图像。引线键合（WireBonding）：高倍显微下，点光源/光纤照明精细照亮微小焊点与金线，查断线、弧度、位置偏移。晶圆（Wafer）检测：表面缺陷（划痕、颗粒、沾污）：高均匀性明场（同轴光、穹顶光）或暗场照明（低角度光突显微小凸起）；图案（Pattern）对准/缺陷：高分辨率同轴光或特定波长照明；薄膜厚度测量：利用干涉或光谱反射，需要特定波长光源。PCB缺陷（断路、短路、蚀刻不良）：高分辨率背光查线路通断、线宽；表面照明查阻焊、字符、污染。BGA/CSP球栅阵列：X光更常用，但光学上可用特殊角度照明观察边缘球。小型化趋势：推动微型、高亮度、高均匀性光源（如微型环形光、同轴光）发展。光源的稳定性、均匀性、波长精确性和可控性对微电子检测至关重要。台州条形光源面阵同轴
