北京半导体GDBC解决方案

为满足日益严苛的车规与工规质量要求，在晶圆测试阶段引入三温乃至多温测试，已成为筛选高可靠性芯片的标准流程。这一测试旨在模拟芯片在极端环境下的工作状态，通过高温、常温、低温下的全面性能评估，有效剔除对环境敏感、性能不稳定的潜在缺陷品，从而大幅提升产品的质量与可靠性。因此，如何在海量的多温测试数据中识别并剔除这些因温度敏感性过高而存在潜在风险的芯片，已成为业内高度关注并致力解决的关键课题。

为应对车规、工规产品在多温测试中面临的参数漂移挑战，上海伟诺信息科技有限公司凭借其深厚的技术积累，开发了一套专门用于多温Drift分析的智能化处理方案。该方案的关键在于，超越传统的、在各个温度点进行孤立判定的测试模式，转而通过对同一芯片在不同温度下的参数表现进行动态追踪与关联性分析，从而精确识别并剔除那些对环境过度敏感、性能不稳定的潜在缺陷品。 上海伟诺信息科技GDBN功能，通过各种算法可以帮助客户快速剔除芯片上异常风险芯片。北京半导体GDBC解决方案

良率波动若不能及时干预，可能造成数百万级的产能损失。YMS系统通过自动化流程，即时采集并清洗来自多种测试平台的异构数据，构建高可信度分析基础。系统支持从宏观趋势到微观缺陷的穿透式分析，例如将某产品月度良率下降与特定封装线关联，并结合FT参数验证是否为打线偏移导致。SYL/SBL卡控机制设置动态阈值，在指标异常时自动预警，实现前置质量管控。多周期报表自动生成并支持多格式导出，使管理层能基于一致数据源快速决策。这种“实时感知—智能归因—主动干预”的能力，将良率管理从经验驱动升级为数据驱动。上海伟诺信息科技有限公司以“以信为本，以质取胜”为准则，持续打磨YMS的可靠性与实用性。甘肃晶圆Mapping Inkless系统价格Mapping Over Ink处理算法模型覆盖连续性、孤立型等多种失效模式，提升识别全面性。

在半导体设计公司或封测厂面临多源测试数据难以统一管理的挑战时，YMS良率管理系统提供了一套端到端的解决方案。系统自动对接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平台，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多种格式原始数据，并完成重复性检测、缺失值识别与异常过滤，确保分析基础可靠。通过标准化数据库对数据统一分类，企业可从时间维度追踪良率趋势，或聚焦晶圆特定区域对比缺陷分布，快速定位工艺异常。结合WAT、CP与FT参数的联动分析，进一步揭示影响良率的根本原因。SYL与SBL的自动计算与卡控机制强化了过程质量防线，而灵活的报表工具支持按模板生成日报、周报、月报，并导出为PPT、Excel或PDF格式，满足跨层级决策需求。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来，持续打磨YMS系统，助力客户构建自主可控的良率管理能力。

国产良率管理系统的价值在于将碎片化测试数据转化为可执行的工艺洞察。YMS系统自动对接ASL1000、SineTest、MS7000、CTA8280、T861、Juno、AMIDA等主流设备，处理十余种格式原始数据，确保从晶圆到芯片级的数据链完整可靠。系统不仅清洗异常记录，还通过图表直观展示良率在不同时间段或晶圆象限的差异。这有助于工程师判断是否为光刻对准偏差或刻蚀不均所致。结合WAT、CP与FT参数联动分析，可区分设计缺陷与制造变异，缩短问题排查周期。这种从“看见异常”到“理解根因”的能力，推动质量改进从被动响应转向主动预防。上海伟诺信息科技有限公司凭借对半导体制造流程的深入理解，推动YMS成为国产替代的关键支撑。GDBC算法利用聚类分析检测空间聚类型失效模式，精确定位斑点划痕类缺陷。

一套高效的良率管理系统开发方案，必须根植于真实生产场景的数据流与决策链。YMS方案覆盖从ETS88、93k、J750等Tester平台自动采集stdf、csv、log等多格式数据，到解析、清洗、整合的完整链路，确保数据源头的完整性与一致性。在此基础上，系统构建标准化数据库，实现对良率信息的统一分类与高效调用。分析层面，方案强调时间序列下的良率波动追踪与晶圆空间维度的缺陷聚类，结合WAT、CP、FT参数变化，形成从现象到根因的完整证据链。SYL与SBL的自动卡控机制嵌入关键控制点，实现预防性质量管理。同时，报表引擎支持按需生成周期报告，并导出为PPT、Excel或PDF，适配不同管理层的信息消费习惯。上海伟诺信息科技有限公司依托多年行业积累，将YMS方案打造为兼具实用性与扩展性的国产选择。Mapping数据经解析后与Bin信息精确对齐，确保测试结果可追溯。甘肃晶圆Mapping Inkless系统价格

Mapping Over Ink处理因数据分析自动化大幅提升效率，缩短封测周期时间。北京半导体GDBC解决方案

当封测厂同时部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余种Tester设备时，每台设备输出的stdf、log、jdf、spd、csv等格式差异常导致数据接入困难。YMS内置多协议解析引擎，可自动识别各类测试平台的数据结构与接口协议，无需定制开发即可完成数据采集与格式转换。系统同步执行重复性检测、缺失字段识别和异常值过滤，确保入库数据准确完整。标准化数据库对所有来源数据统一分类存储，为后续良率分析提供一致基础。这种“即插即用”的兼容能力，明显降低多设备环境下的集成复杂度与维护成本。上海伟诺信息科技有限公司基于半导体制造的实际设备生态，持续优化YMS的适配广度与稳定性。北京半导体GDBC解决方案

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