企业商机
YMS基本参数
  • 品牌
  • 上海伟诺
  • 型号
  • 伟诺
  • 适用行业
  • 半导体
  • 版本类型
  • 网络版
  • 语言版本
  • 简体中文版
YMS企业商机

在智能制造转型背景下,YMS已不仅是数据分析工具,更是连接测试与工艺优化的中枢系统。系统实时汇聚来自ETS364、STS8107、93k等平台的测试结果,自动完成结构化清洗与整合,消除信息孤岛。标准化数据库支持动态监控良率变化,例如识别某机台连续三批边缘区域良率偏低,触发设备校准预警。SYL/SBL卡控功能则在指标超限时自动拦截异常批次,防止不良品流入下一环节。报表引擎支持按产品线、客户或班次生成定制化报告,适配不同管理层的信息需求。这种“采集—分析—干预—反馈”的闭环机制,明显提升了生产过程的可控性与响应速度。上海伟诺信息科技有限公司以打造中国半导体软件生态为使命,持续完善YMS的集成能力。针对原始测试数据,YMS会自动清洗——剔除重复、过滤异常,确保纯净。山西智能良率管理系统定制

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在半导体工厂高频率、多设备并行的测试环境中,人工处理异构数据极易延误问题响应。YMS系统通过自动化流程,实时汇聚来自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等设备的多格式原始数据,完成统一解析与清洗,消除因格式差异导致的信息断层。结构化的数据库使良率数据可追溯、可比对,支持从批次到晶圆级别的精细监控。当某一批次良率骤降时,系统可迅速调取对应区域的缺陷热力图,并关联WAT、CP、FT参数变化,辅助工程师在数小时内锁定根本原因。SYL/SBL卡控功能则在指标超限时自动预警,防止不良品流入下一环节。周期性报表一键生成并支持多格式导出,满足从产线到高管的差异化信息需求。上海伟诺信息科技有限公司凭借对封测与制造场景的深入理解,持续优化YMS的数据驱动能力。吉林芯片制造YMS解决方案量产中YMS严格校验数据完整性,确保每条记录一致可信,支撑全流程追溯。

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晶圆制造环节的良率波动直接影响整体产出效率,YMS系统通过全流程数据治理提供有力支撑。系统自动采集并解析来自主流测试设备的多源异构数据,建立标准化数据库,实现对晶圆批次、区域乃至单点良率的精细化监控。结合WAT、CP、FT等关键测试数据的变化趋势,系统可快速锁定影响良率的关键因素,指导工艺参数调优。图表化界面直观展示良率热力图、趋势曲线等关键指标,辅助工程师高效决策。同时,系统支持按模板生成周期性报告,并导出为常用办公格式,满足生产与管理双重需求。上海伟诺信息科技有限公司以打造国产半导体软件生态为使命,其YMS产品正持续助力制造企业迈向高质量、高效率的发展新阶段。

传统良率卡控依赖人工设定固定阈值,难以适应产品迭代或工艺波动。YMS系统基于历史测试数据自动计算SYL(良率下限)与SBL(良率控制线),并根据统计规律动态调整控制边界。当某批次实际良率跌破SBL时,系统立即触发告警,通知质量人员介入;若连续多批接近SYL,则提示需启动工艺评审。该机制将质量防线前置,防止低良率晶圆流入昂贵的封装环节,有效控制报废成本。自动计算替代经验估算,确保卡控标准客观、一致且可追溯。上海伟诺信息科技有限公司将SYL、SBL自动卡控作为YMS的关键功能,支撑客户实现过程质量的主动管理。自动化处理替代手工操作,YMS将良率异常排查时间从小时级压缩至分钟级。

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半导体设计公司对良率分析的颗粒度要求极高,需兼顾芯片级精度与跨项目可比性。YMS系统支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平台产生的多格式测试数据,完成统一解析与结构化存储,确保从晶圆到单颗芯片的数据链完整。系统不仅实现时间趋势与区域对比分析,还能通过WAT参数漂移预警潜在设计风险,辅助早期迭代优化。SYL与SBL的自动计算功能,为良率目标达成提供量化依据;灵活报表引擎则支持按项目、产品线或客户维度生成分析简报,并导出为PPT、Excel或PDF,适配不同汇报场景。这种深度集成的能力,使良率管理从被动响应转向主动预防。上海伟诺信息科技有限公司以“以信为本,以质取胜”为准则,持续打磨YMS的功能完整性与行业适配性。面对ETS88、J750等十余种Tester平台,YMS能自动捕捉其输出的测试数据。贵州工厂良率管理系统有哪些厂商

良率刚超控制线,YMS便弹出弹窗、发送邮件,即时触发告警提醒异常。山西智能良率管理系统定制

在半导体设计公司或封测厂面临多源测试数据难以统一管理的挑战时,YMS良率管理系统提供了一套端到端的解决方案。系统自动对接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平台,采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多种格式原始数据,并完成重复性检测、缺失值识别与异常过滤,确保分析基础可靠。通过标准化数据库对数据统一分类,企业可从时间维度追踪良率趋势,或聚焦晶圆特定区域对比缺陷分布,快速定位工艺异常。结合WAT、CP与FT参数的联动分析,进一步揭示影响良率的根本原因。SYL与SBL的自动计算与卡控机制强化了过程质量防线,而灵活的报表工具支持按模板生成日报、周报、月报,并导出为PPT、Excel或PDF格式,满足跨层级决策需求。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来,持续打磨YMS系统,助力客户构建自主可控的良率管理能力。山西智能良率管理系统定制

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