企业商机
MappingOverInk处理基本参数
  • 品牌
  • 上海伟诺
  • 型号
  • 伟诺
  • 适用行业
  • 半导体
  • 版本类型
  • 网络版
  • 语言版本
  • 简体中文版
MappingOverInk处理企业商机

面对半导体生产现场,车间良率管理系统实现了对制造过程的实时洞察与动态调控。系统自动汇聚来自各类测试设备的原始数据,经智能解析后形成结构化数据库,支撑对各工序、各时段良率表现的即时追踪。管理者可通过可视化图表快速识别产线瓶颈、异常波动或区域性缺陷,及时干预以减少损失。系统不仅支持按需生成标准化报告,还可导出多种格式,适配车间操作与高层管理的不同使用场景。这种数据透明化机制,明显提升了生产过程的可控性与响应速度。上海伟诺信息科技有限公司凭借对半导体制造流程的深刻理解,将YMS打造为连接设备数据与管理决策的高效桥梁。UPLY处理针对特定层间关联缺陷,通过垂直面算法判定单颗Die失效概率。江苏可视化Mapping Inkless服务商

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车间管理者需要的是能即时反映产线状态的良率监控工具,而非复杂的数据平台。YMS车间方案聚焦高频、高敏场景,自动汇聚来自现场Tester设备的测试结果,并实时进行数据清洗与异常过滤,确保看板展示的信息准确有效。通过标准化数据库,系统支持按班次、机台或产品型号动态呈现良率热力图与缺陷分布,帮助班组长在交接班前快速识别异常批次。当某区域连续出现低良率时,系统可联动CP与FT数据判断是否为共性工艺问题,并触发预警。日报、周报自动生成并支持多格式导出,减少手工填报负担。这种“轻部署、快响应、强落地”的设计思路,使良率管理真正融入日常生产节奏。上海伟诺信息科技有限公司基于对封测工厂运作逻辑的深刻洞察,持续优化YMS的车间适用性。辽宁GDBC系统工艺工程师基于GDBC聚类结果优化制程参数,提升制造良率水平。

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在封测工厂的日常运营中,良率波动往往源于测试数据分散、格式不一或异常信息未被及时识别。YMS系统自动对接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平台,高效采集stdf、csv、log、txt等多种格式的原始测试数据,并完成重复性检测、缺失值识别与异常数据过滤,确保后续分析基于准确、完整的数据基础。通过标准化数据库对数据统一分类,系统支持从时间序列追踪良率趋势,或从晶圆区域对比缺陷分布,快速定位工艺偏差。SYL与SBL参数的自动计算与卡控机制,进一步强化了质量防线。灵活的报表工具可按模板生成日报、周报、月报,并导出为PPT、Excel或PDF,满足从产线到管理层的信息需求。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来,持续深耕半导体软件领域,其YMS系统已成为封测企业实现质量闭环管理的重要支撑。

作为国产半导体软件生态的重要建设者,YMS系统的开发始终围绕真实生产痛点展开。系统兼容主流Tester平台,自动处理stdf、csv、log等十余种数据格式,完成从采集、清洗到整合的全流程自动化,消除信息孤岛。其分析引擎支持多维度交叉比对,例如将晶圆边缘良率偏低现象与刻蚀设备参数日志关联,辅助工程师精确归因。SYL/SBL卡控机制嵌入关键控制点,实现过程质量前置管理。配套的报表工具可按模板一键生成周期报告,大幅提升跨部门协同效率。更重要的是,系统背后有完整的售前咨询、售中方案优化与售后标准化服务体系支撑,确保价值落地。上海伟诺信息科技有限公司依托多年行业积累,使YMS成为兼具技术深度与实施可靠性的国产替代选择。上海伟诺信息科技GDBN功能,通过各种算法可以帮助客户快速剔除芯片上异常风险芯片。

在晶圆测试(CP)过程中,ProbeMapping(探针测试图谱)作为记录每一颗芯片测试结果的重要载体,其数据完整性直接决定了良率分析的准确性与生产流程的可追溯性。然而在实际量产环境中,因硬件通信异常、软件系统故障、产线突然断电或人为操作失误等多种意外情况,Mapping数据丢失、损坏或格式不兼容的问题时有发生。这类数据异常不仅会导致当批晶圆的测试结果无法被正确解析,更会中断生产信息链,使后续的封装拣选、质量追溯与制程优化丧失依据,对整体产品良率与制程管控构成严峻挑战。

针对这一行业共性难题,上海伟诺信息科技有限公司从实际测试场景出发,开发出一套高效、可靠的Mapping格式转换解决方案,致力于从根本上保障数据流的无缝衔接。该功能支持将CP测试系统生成的原始Mapping数据,智能、精确地转换为各类主流探针台可直接识别并加载的格式,兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在内的多种设备类型。通过这一转换流程,用户不仅能够有效恢复因格式问题而“失效”的测试数据,避免晶圆重复测试带来的成本与时间损失,更能构建起一条从测试到封装的高可靠性数据通道,从而提升整体生产流程的连贯性与自动化水平,为良率提升与工艺优化提供坚实的数据基石。 Mapping Over Ink处理方案支持高密度逻辑与模拟芯片应用,覆盖多品类半导体产品。辽宁GDBC系统

DPAT模块动态调整阈值以适应批次差异,分场景优化测试限设定。江苏可视化Mapping Inkless服务商

面对stdf、log、jdf等格式混杂的测试数据流,传统手工转换不仅耗时,还易引入人为错误。YMS系统采用智能解析与清洗技术,自动校验字段一致性,对缺失或错位字段进行逻辑补全或标记,确保每条记录结构完整。系统支持批量历史数据导入与实时测试流同步处理,无论数据来自ASL1000还是TR6850,均能统一转化为可用于分析的标准数据集。在此基础上,异常值被自动过滤,重复记录被精确剔除,明显提升数据可信度。这种端到端的自动化处理机制,使工程师无需再耗费数小时整理原始文件,而是直接聚焦于根因分析。上海伟诺信息科技有限公司基于半导体制造的实际数据特征,构建了这一高效可靠的数据预处理体系。江苏可视化Mapping Inkless服务商

上海伟诺信息科技有限公司是一家有着先进的发展理念,先进的管理经验,在发展过程中不断完善自己,要求自己,不断创新,时刻准备着迎接更多挑战的活力公司,在上海市等地区的数码、电脑中汇聚了大量的人脉以及**,在业界也收获了很多良好的评价,这些都源自于自身的努力和大家共同进步的结果,这些评价对我们而言是比较好的前进动力,也促使我们在以后的道路上保持奋发图强、一往无前的进取创新精神,努力把公司发展战略推向一个新高度,在全体员工共同努力之下,全力拼搏将共同和您一起携手走向更好的未来,创造更有价值的产品,我们将以更好的状态,更认真的态度,更饱满的精力去创造,去拼搏,去努力,让我们一起更好更快的成长!

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