中国澳门Mapping Inkless系统

在半导体制造中，由于Fab制程的物理与化学特性，晶圆边缘的芯片（Edge Die）其失效率明显高于中心区域。这一现象主要源于几个关键因素：首先，在光刻、刻蚀、薄膜沉积等工艺中，晶圆边缘的反应气体流场、温度场及压力场分布不均，导致工艺一致性变差；其次，边缘区域更容易出现厚度不均、残留应力集中等问题；此外，光刻胶在边缘的涂覆均匀性也通常较差。这些因素共同导致边缘芯片的电气参数漂移、性能不稳定乃至早期失效风险急剧升高。因此，在晶圆测试（CP）的制造流程中，对电性测试图谱（Wafer Mapping）执行“去边”操作，便成为一项提升产品整体良率与可靠性的关键步骤。
上海伟诺信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多种算法与自定义圈数，满足客户快速高效低剔除边缘芯片，可以从根本上避免后续对这些潜在不良品进行不必要的封装和测试，从而直接节约成本，并确保出厂产品的质量与可靠性要求。Mapping Over Ink处理通过空间分析有效识别外观损伤引起的隐性失效，提升可靠性。中国澳门Mapping Inkless系统

当测试工程师面对来自ETS88、J750、93k等多台设备输出的stdf、log、jdf等格式混杂的原始数据时，传统人工清洗往往需耗费数小时核对字段、剔除重复记录。YMS系统通过自动解析引擎识别各类数据结构，检测重复性与缺失性，并过滤异常值，将清洗过程压缩至分钟级。清洗后的数据统一归入标准化数据库，确保后续分析基于一致、干净的数据源。工程师不再陷于繁琐整理，而是聚焦于缺陷模式识别与工艺优化建议。这种自动化处理不仅提升效率，更消除人为疏漏带来的分析偏差。上海伟诺信息科技有限公司将数据清洗作为YMS的基础能力，支撑客户实现高效、可靠的良率管理。河南可视化Mapping Inkless软件GDBC算法利用聚类分析检测空间聚类型失效模式，精确定位斑点划痕类缺陷。

良率波动若只凭单点数据判断，容易误判趋势。YMS系统将每日、每周、每月的测试结果按时间序列归档，生成连续良率曲线，并以折线图、热力图等形式直观呈现变化规律。当某产品线周良率从98%骤降至95%时，系统不仅高亮异常区间，还可联动同期WAT参数漂移或设备维护记录，辅助判断是否为工艺变更所致。管理层可按日粒度监控关键产品，工程师则可深入分析小时级波动以优化机台参数。这种动态追踪能力，使质量干预从事后追溯转向事中预警。结合灵活报表工具，时间维度分析结果可一键导出为PPT或PDF，用于晨会或客户汇报。上海伟诺信息科技有限公司通过YMS的时间序列分析功能，助力客户实现精细化过程管控。

半导体测试是半导体制造过程中质量的一道关键防线，扮演着日益关键角色，单纯依赖传统电性测试的“通过/失败”界限，已无法满足对产品“零缺陷”的追求。为了大力提升测试覆盖度，构筑更为坚固的质量防线，采用GDBN技术来识别并剔除那些位于“不良环境”中的高风险芯片，已成为车规、工规等类产品不可或缺的必要手段。

细化需求。

为此，上海伟诺信息科技有限公司为客户提供了一套包含多重GDBN算法的综合解决方案，该方案具备高度的灵活性与强大的适应性，能够精确满足半导体设计公司与CP测试厂对提升产品可靠性的关键诉求，成为客户应对高质量挑战的可靠伙伴，共同构筑面向未来的半导体质量防线。 上海伟诺信息科技SPAT功能，通过结合测试数据去除超出规范的芯片并生成新的Mapping。

当封测厂面临多设备、多格式测试数据难以统一处理的困境时，YMS系统通过自动化采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等Tester平台输出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等数据，完成重复性检测、缺失值识别与异常过滤，明显降低人工干预成本。标准化数据库实现数据统一分类，支持从时间趋势到晶圆区域热力图的多维分析，帮助快速定位工艺波动点。SYL与SBL的自动计算与卡控机制嵌入关键控制节点，强化过程质量防线。灵活报表工具可按模板生成日报、周报、月报，并导出为PPT、Excel或PDF，提升跨部门协同效率。系统报价覆盖软件授权、必要定制及全周期服务，确保投入产出比合理。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来，持续优化YMS功能，助力客户实现高性价比的良率管理。Mapping Over Ink处理支持结果回溯，确保数据在供应链中无缝传递。云南PAT平台

多轮重测数据动态更新Mapping Over Ink处理的Ink决策，确保筛选结果实时优化。中国澳门Mapping Inkless系统

在半导体设计公司或封测厂面临多源测试数据难以统一管理的挑战时，YMS良率管理系统提供了一套端到端的解决方案。系统自动对接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平台，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多种格式原始数据，并完成重复性检测、缺失值识别与异常过滤，确保分析基础可靠。通过标准化数据库对数据统一分类，企业可从时间维度追踪良率趋势，或聚焦晶圆特定区域对比缺陷分布，快速定位工艺异常。结合WAT、CP与FT参数的联动分析，进一步揭示影响良率的根本原因。SYL与SBL的自动计算与卡控机制强化了过程质量防线，而灵活的报表工具支持按模板生成日报、周报、月报，并导出为PPT、Excel或PDF格式，满足跨层级决策需求。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来，持续打磨YMS系统，助力客户构建自主可控的良率管理能力。中国澳门Mapping Inkless系统

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