企业商机
MappingOverInk处理基本参数
  • 品牌
  • 上海伟诺
  • 型号
  • 伟诺
  • 适用行业
  • 半导体
  • 版本类型
  • 网络版
  • 语言版本
  • 简体中文版
MappingOverInk处理企业商机

国产良率管理系统的价值在于将碎片化测试数据转化为可执行的工艺洞察。YMS系统自动对接ASL1000、SineTest、MS7000、CTA8280、T861、Juno、AMIDA等主流设备,处理十余种格式原始数据,确保从晶圆到芯片级的数据链完整可靠。系统不仅清洗异常记录,还通过图表直观展示良率在不同时间段或晶圆象限的差异。这有助于工程师判断是否为光刻对准偏差或刻蚀不均所致。结合WAT、CP与FT参数联动分析,可区分设计缺陷与制造变异,缩短问题排查周期。这种从“看见异常”到“理解根因”的能力,推动质量改进从被动响应转向主动预防。上海伟诺信息科技有限公司凭借对半导体制造流程的深入理解,推动YMS成为国产替代的关键支撑。上海伟诺信息科技ZPAT功能,通过堆叠Mapping及不同算法帮助用户剔除潜在质量风险的芯片。青海自动化GDBC服务商

青海自动化GDBC服务商,MappingOverInk处理

传统良率卡控依赖人工设定固定阈值,难以适应产品迭代或工艺波动。YMS系统基于历史测试数据自动计算SYL(良率下限)与SBL(良率控制线),并根据统计规律动态调整控制边界。当某批次实际良率跌破SBL时,系统立即触发告警,通知质量人员介入;若连续多批接近SYL,则提示需启动工艺评审。该机制将质量防线前置,防止低良率晶圆流入昂贵的封装环节,有效控制报废成本。自动计算替代经验估算,确保卡控标准客观、一致且可追溯。上海伟诺信息科技有限公司将SYL、SBL自动卡控作为YMS的关键功能,支撑客户实现过程质量的主动管理。青海GDBC系统定制Mapping Over Ink处理系统提供售前咨询与售后标准化服务,保障客户实施体验。

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在半导体制造中,由于Fab制程的物理与化学特性,晶圆边缘的芯片(Edge Die)其失效率明显高于中心区域。这一现象主要源于几个关键因素:首先,在光刻、刻蚀、薄膜沉积等工艺中,晶圆边缘的反应气体流场、温度场及压力场分布不均,导致工艺一致性变差;其次,边缘区域更容易出现厚度不均、残留应力集中等问题;此外,光刻胶在边缘的涂覆均匀性也通常较差。这些因素共同导致边缘芯片的电气参数漂移、性能不稳定乃至早期失效风险急剧升高。因此,在晶圆测试(CP)的制造流程中,对电性测试图谱(Wafer Mapping)执行“去边”操作,便成为一项提升产品整体良率与可靠性的关键步骤。
上海伟诺信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多种算法与自定义圈数,满足客户快速高效低剔除边缘芯片,可以从根本上避免后续对这些潜在不良品进行不必要的封装和测试,从而直接节约成本,并确保出厂产品的质量与可靠性要求。

YMS(良率管理系统)的本质是将海量测试数据转化为精确的质量决策依据。系统兼容ETS88、J750、ASL1000、Chroma等主流Tester设备,自动解析stdf、csv、log、jdf等多种格式数据,完成端到端的数据治理。在此基础上,通过标准化数据库实现时间序列追踪与晶圆区域对比,例如发现某批次中心区域缺陷密度突增,可联动WAT参数判断是否为离子注入剂量漂移所致。SYL与SBL的自动计算功能为良率目标达成提供量化基准,而灵活报表工具支持一键导出PPT、Excel或PDF格式报告,减少手工整理负担。这种从原始数据到管理行动的无缝衔接,极大提升了质量团队的工作效能。上海伟诺信息科技有限公司专注于半导体行业软件研发,确保YMS功能紧贴实际生产需求。客户可复用Mapping Over Ink处理结果进行跨批次对比分析,优化生产工艺。

作为国产半导体软件生态的重要建设者,YMS系统的开发始终围绕真实生产痛点展开。系统兼容主流Tester平台,自动处理stdf、csv、log等十余种数据格式,完成从采集、清洗到整合的全流程自动化,消除信息孤岛。其分析引擎支持多维度交叉比对,例如将晶圆边缘良率偏低现象与刻蚀设备参数日志关联,辅助工程师精确归因。SYL/SBL卡控机制嵌入关键控制点,实现过程质量前置管理。配套的报表工具可按模板一键生成周期报告,大幅提升跨部门协同效率。更重要的是,系统背后有完整的售前咨询、售中方案优化与售后标准化服务体系支撑,确保价值落地。上海伟诺信息科技有限公司依托多年行业积累,使YMS成为兼具技术深度与实施可靠性的国产替代选择。Mapping Over Ink处理因数据分析自动化大幅提升效率,缩短封测周期时间。青海GDBC系统定制

工艺工程师基于GDBC聚类结果优化制程参数,提升制造良率水平。青海自动化GDBC服务商

面对国产替代需求,选择具备技术自主性和行业适配能力的良率管理系统厂商至关重要。上海伟诺信息科技有限公司的YMS系统兼容主流Tester平台,覆盖十余种测试数据格式,实现从采集、解析到异常过滤的全流程自动化。其分析引擎支持时间序列追踪、晶圆区域对比及WAT/CP/FT参数联动,精确识别影响良率的关键因素。SYL/SBL卡控与灵活报表导出功能,进一步强化过程管控与决策支持。更重要的是,系统背后有完整的实施与服务体系支撑,确保从部署到优化的每个环节可靠落地。这种“软硬协同”的能力,使YMS在国产软件生态中具备强大竞争力。伟诺依托多年项目积累,持续验证其作为本土良率管理解决方案提供者的专业价值。青海自动化GDBC服务商

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