谱分析中效率刻度是定量分析的重要前提。效率刻度后可对所测样品进行定性分析。用户可以填写效率刻度相关信息，点击“加入刻度”，点击“拟合函数”，进行拟合。点击使用刻度应用于当前谱图。点击“打开刻度”可调用已保存的刻度，进行应用。
谱分析中的感兴趣区域，用户可以根据谱图信息，添加新的区域并保存当前区域信息。若后续有需求可点击“打开区域”，调用已保存的区域。如果已添加的区域不再需要，将光标放置在需要删除的区域，点击“删除区域”即可。
SIM-MAX PA 系列 α 谱仪是一款基于高性能 PIPS 硅探测器的放射性分析仪器，主要用于对各种环境介质中放射性物质进行定性定量分析。该系列产品提供二路、四路和八路 3 种规格可选，探测器有效面积提供 300mm2、450mm2、600mm2 和1200mm2 4 种可选。
充分满足你的需求，可应用于： 核电安全——核材料检查监测、核燃料生产及后处理、核电厂放射性测量、核应急放射性污染监测；检验分析——出入境检疫检验分析、建材放射性活度测量、食品放射性活度测量；水质监测——铀矿、石油、天然气、地下水资源、核工业地勘系统； 环境与卫生评价——氡钍气溶胶测量、食品检验、人体健康；高等院校和医院——核实验基地、核物理实验室、医药卫生、农业科学。
深圳新型alpha谱仪欢迎咨询新漫alpha能谱仪系列技术规格，了解一下。
Alpha谱仪系列应用很广，可以运用在很多领域。在环境与卫生评价领域，可以用于氡钍气溶胶测量、食品检验、人体健康；在高校研究领域，可以用于和实验基地、核物理实验室、核物理实验室、医药卫生、农业科学；在检验分析领域，可以用于出入境检疫检验分析、建材放射性活度测量、食品放射性活度测量、食品放射性活度测量；在核电安全领域，可以用于核材料检查监测；在资源勘查领域，铀矿、石油、天然气，地下水资源，核工业地勘系统。
半导体探测器是60年代以来迅速发展起来的一种新型的射线探测器。它经常被应用于各个领域，不同类型的半导体探测器在不同的方面都有其自身的特点。按形成半导体探测器PN结的方法，可将其分为两种：离子注入型和表面位垒型。离子注入半导体探测器在我国尚未被普遍使用，其辐射剂量特性正在开发当中，因而有很大的研究空间。钝化离子注入平面硅 (Pas-sivated Implanted Planar Silian，简称PIPS) 探测器，是半导体钝化离子注入的新工艺产品。 新漫研发人员了解学术和技术的发展动态，深入了解学校和科研院所相关的研究课题和成果。
新漫研发项目课题带头人都有扎实的理论和实践能力，管理时间、资源的综合能力，是课题顺利实施的有力保障。南京直销alpha谱仪生厂商
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【详情】在此科普一下α谱仪的相关术语。例如，半高宽（分辨率）是指在获得的能谱图上，单峰峰值一半处两点横坐标间...
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【详情】新漫项目根据流程执行。设有《项目任务书》。其中涵盖项目中对应阶段的技术指标要求，产品适用性，满足用户...
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【详情】上海新漫秉承“以科技为动力、以质量求发展、以信誉拓市场，为了更安全的明天”的经营理念并以开拓创新的思...
【详情】随着中国加入WTO，中国经济进步融入世界经济，中国在世界经济中扮演着越来越重要的角色。在这样的大背景...
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